Defect analysis in electron microscopy

Defect analysis in electron microscopy

Nog geen beoordelingen
Jan 1, 1975 · Engels · Hardcover (134 pagina's)
Toevoegen aan Plank

Beoordeel dit boek


Boekjournaal exporteren

Boekdetails

Formaat Hardcover
Pagina's 134
Taal Engels
Gepubliceerd Jan 1, 1975
Uitgever Wiley : distributed by Halstead Press
ISBN-10 0412137607
ISBN-13 9780412137600
Toevoegen aan Plank

Beoordeel dit boek


Boekjournaal exporteren