Defect analysis in electron microscopy

Defect analysis in electron microscopy

Inga betyg ännu
Jan 1, 1975 · Engelska · Inbunden (134 sidor)
Lägg till på hyllan

Betygsätt denna bok


Exportera bokjournal

Bokdetaljer

Format Inbunden
Sidor 134
Språk Engelska
Publicerad Jan 1, 1975
Förlag Wiley : distributed by Halstead Press
ISBN-10 0412137607
ISBN-13 9780412137600
Lägg till på hyllan

Betygsätt denna bok


Exportera bokjournal