Defect analysis in electron microscopy

Defect analysis in electron microscopy

まだ評価がありません
Jan 1, 1975 · 英語 · ハードカバー (134 ページ)
棚に追加

この本を評価する


ブックジャーナルをエクスポート

本の詳細

形式 ハードカバー
ページ数 134
言語 英語
公開されました Jan 1, 1975
出版社 Wiley : distributed by Halstead Press
ISBN-10 0412137607
ISBN-13 9780412137600
棚に追加

この本を評価する


ブックジャーナルをエクスポート