Defect analysis in electron microscopy

Defect analysis in electron microscopy

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Jan 1, 1975 · Inglés · Tapa dura (134 páginas)
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Detalles del libro

Formato Tapa dura
Páginas 134
Idioma Inglés
Publicado Jan 1, 1975
Editorial Wiley : distributed by Halstead Press
ISBN-10 0412137607
ISBN-13 9780412137600
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