Defect analysis in electron microscopy

Defect analysis in electron microscopy

Brak ocen
Jan 1, 1975 · Angielski · Twarda okładka (134 strony)
Dodaj do półki

Oceń tę książkę


Eksportuj Dziennik Książki

Szczegóły książki

Format Twarda okładka
Strony 134
Język Angielski
Opublikowany Jan 1, 1975
Wydawca Wiley : distributed by Halstead Press
ISBN-10 0412137607
ISBN-13 9780412137600
Dodaj do półki

Oceń tę książkę


Eksportuj Dziennik Książki