Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance, and Reliability. Frontiers in Electronic Testing, Volume 37.

Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance, and Reliability. Frontiers in Electronic Testing, Volume 37.

Mohammad Tehranipoor
لا توجد تقييمات بعد
2008 · الإنجليزية · كتاب إلكتروني
أضف إلى الرف

قيم هذا الكتاب

تصدير مجلة الكتاب

تفاصيل الكتاب

تنسيق كتاب إلكتروني
صفحات 411 صفحات
لغة الإنجليزية
منشور Jan 1, 2008
الناشر Springer
رقم ISBN-10 1281140163
رقم ISBN-13 9781281140166
أضف إلى الرف

قيم هذا الكتاب

تصدير مجلة الكتاب