Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance, and Reliability. Frontiers in Electronic Testing, Volume 37.

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2008 · 영어 · 전자책
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책 세부 정보

형식 전자책
페이지 411 페이지
언어 영어
출판됨 Jan 1, 2008
출판사 Springer
ISBN-10 1281140163
ISBN-13 9781281140166
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