Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance, and Reliability. Frontiers in Electronic Testing, Volume 37.

Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance, and Reliability. Frontiers in Electronic Testing, Volume 37.

Mohammad Tehranipoor
هنوز رتبه‌بندی نشده است
Jan 1, 2008 · انگلیسی · کتاب الکترونیکی (411 صفحات)
به قفسه اضافه کنید

به این کتاب امتیاز دهید

صدور دفتر کتاب

جزئیات کتاب

فرمت کتاب الکترونیکی
صفحات 411
زبان انگلیسی
منتشر شده Jan 1, 2008
ناشر Springer
ISBN-10 1281140163
ISBN-13 9781281140166
به قفسه اضافه کنید

به این کتاب امتیاز دهید

صدور دفتر کتاب