Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance, and Reliability. Frontiers in Electronic Testing, Volume 37.

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2008 · 英语 · 电子书
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格式 电子书
页数 411 页
语言 英语
已发布 1月 1, 2008
出版商 Springer
ISBN-10 1281140163
ISBN-13 9781281140166
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