Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance, and Reliability. Frontiers in Electronic Testing, Volume 37.

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Mohammad Tehranipoor

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Jan 1, 2008 · Englisch · E-Book (411 Seiten)

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Buchdetails

Format E-Book

Seiten 411

Sprache Englisch

Veröffentlicht Jan 1, 2008

Verlag Springer

ISBN-10 1281140163

ISBN-13 9781281140166

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