Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance, and Reliability. Frontiers in Electronic Testing, Volume 37.

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Mohammad Tehranipoor
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2008 · Inglês · eBook
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Detalhes do Livro

Formato eBook
Páginas 411 páginas
Idioma Inglês
Publicado jan 1, 2008
Editora Springer
ISBN-10 1281140163
ISBN-13 9781281140166
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