Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance, and Reliability. Frontiers in Electronic Testing, Volume 37.

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Mohammad Tehranipoor
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Jan 1, 2008 · Inglese · eBook (411 pagine)
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Formato eBook
Pagine 411
Lingua Inglese
Pubblicato Jan 1, 2008
Editore Springer
ISBN-10 1281140163
ISBN-13 9781281140166
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