Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance, and Reliability. Frontiers in Electronic Testing, Volume 37.

Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance, and Reliability. Frontiers in Electronic Testing, Volume 37.

Mohammad Tehranipoor
Nog geen beoordelingen
2008 · Engels · eBook
Toevoegen aan Plank

Beoordeel dit boek

Boekjournaal exporteren

Boekdetails

Formaat eBook
Pagina's 411 pagina's
Taal Engels
Gepubliceerd jan. 1, 2008
Uitgever Springer
ISBN-10 1281140163
ISBN-13 9781281140166
Toevoegen aan Plank

Beoordeel dit boek

Boekjournaal exporteren