تفاصيل الكتاب
تنسيق
كيندل
صفحات
501
لغة
الإنجليزية
منشور
Aug 12, 2009
الناشر
ELSEVIER SCIENCE & TECHNOLOGY
رقم ISBN-10
6612288809
رقم ISBN-13
9786612288807
الوصف
Atomic force microscopy (AFM) is a surface imaging technique that can be applied at sub-nanometre resolution in liquids and gases. The same instrumentation can also be used to quantify directly the forces of interfacial interaction in such environments an