الوصف
Atomic force microscopy (AFM) is a surface imaging technique that can be applied at sub-nanometre resolution in liquids and gases. The same instrumentation can also be used to quantify directly the forces of interfacial interaction in such environments an
تفاصيل الكتاب
تنسيق
كيندل
صفحات
501 صفحات
لغة
الإنجليزية
منشور
أغسطس 12, 2009
الناشر
ELSEVIER SCIENCE & TECHNOLOGY
رقم ISBN-10
6612288809
رقم ISBN-13
9786612288807