説明
Atomic force microscopy (AFM) is a surface imaging technique that can be applied at sub-nanometre resolution in liquids and gases. The same instrumentation can also be used to quantify directly the forces of interfacial interaction in such environments an
本の詳細
形式
キンドル
ページ数
501ページ
言語
英語
公開されました
8月 12, 2009
出版社
ELSEVIER SCIENCE & TECHNOLOGY
ISBN-10
6612288809
ISBN-13
9786612288807